Тазалығы жоғары металдарға арналған тазалықты анықтау технологиялары

Төменде соңғы технологиялардың, дәлдіктің, шығындардың және қолдану сценарийлерінің жан-жақты талдауы берілген:

мен. Соңғы анықтау технологиялары

1. .ICP-MS/MS біріктіру технологиясы.

• .ПринципМатрицалық кедергілерді жою үшін тандемдік масс-спектрометрияны (MS/MS) пайдаланады, ол оңтайландырылған алдын ала өңдеумен (мысалы, қышқылды қорыту немесе микротолқынды еріту) ppb деңгейінде металдық және металлоидты қоспалардың іздерін анықтауға мүмкіндік береді‌
• .ДәлдікАнықтау шегі - төмен0,1 ppbӨте таза металдар үшін жарамды (≥99,999% тазалық)‌
• .ҚұныЖабдықтың жоғары құны (~285 000 –285 000 –714 000 АҚШ долларытехникалық қызмет көрсету және пайдалану талаптары бар

1. .Ажыратымдылығы жоғары ICP-OES.

• .ПринципПлазма қозуы нәтижесінде пайда болатын элементтерге тән сәуле шығару спектрлерін талдау арқылы қоспалардың мөлшерін анықтайды.
• .ДәлдікМатрицалық кедергі болуы мүмкін болса да, кең сызықтық диапазонмен (5–6 реттік) ppm деңгейіндегі қоспаларды анықтайды.
• .ҚұныЖабдықтың орташа құны (‌~143 000 –143 000 –286 000 АҚШ доллары), сериялық сынақта әдеттегі жоғары таза металдар (99,9%-99,99% тазалық) үшін өте қолайлы.

1. .Жарқырау разрядының масс-спектрометриясы (GD-MS).

• .ПринципЕрітінділердің ластануын болдырмау үшін қатты үлгінің беттерін тікелей иондандырады, бұл изотоптардың көптігін талдауға мүмкіндік береді‌.
• .ДәлдікАнықтау шегіне жетуppt деңгейіЖартылай өткізгіштегі өте таза металдарға арналған (≥99,9999% тазалық)‌.
• .Құны: Өте жоғары (> $714 000 АҚШ долларыЖетілдірілген зертханалармен шектеледі.

1. .In-situ рентгендік фотоэлектрондық спектроскопия (XPS).

• .Принципоксид қабаттарын немесе қоспа фазаларын анықтау үшін бетінің химиялық күйлерін талдайды‌78.
• .ДәлдікНаноөлшемді тереңдік ажыратымдылығы, бірақ беттік талдаумен шектелген‌.
• .Құны: Жоғары (~$429 000 АҚШ доллары), күрделі техникалық қызмет көрсетумен.

II. Ұсынылатын анықтау шешімдері‌

Металл түріне, тазалық дәрежесіне және бюджетке байланысты келесі комбинациялар ұсынылады:

1. .Өте таза металдар (>99,999%).

• .Технология: ICP-MS/MS + GD-MS‌14
• .АртықшылықтарыЕң жоғары дәлдікпен іздік қоспалар мен изотопты талдауды қамтиды.
• .ҚолданбаларЖартылай өткізгіш материалдар, шашыратқыш нысандар.

1. .Стандартты жоғары таза металдар (99,9%-99,99%).

• .Технология‌: ICP-OES + Химиялық титрлеу‌24
• .Артықшылықтары: үнемді (‌жалпы сомасы ~214 000 АҚШ доллары), көп элементті жылдам анықтауды қолдайды.
• .Қолданбалар: Өнеркәсіптік жоғары таза қалайы, мыс және т.б.

1. .Бағалы металдар (Au, Ag, Pt).

• .ТехнологияXRF + Өрт талдауы‌68
• .Артықшылықтары‌: жоғары дәлдіктегі химиялық валидациямен жұптастырылған бұзбайтын скрининг (XRF); жалпы құны~71 000 –71 000 –143 000 АҚШ доллары‌‌
• .ҚолданбаларЗергерлік бұйымдар, құймалар немесе үлгі тұтастығын талап ететін сценарийлер.

1. .Шығынға сезімтал қолданбалар.

• .Технология‌: Химиялық титрлеу + өткізгіштік/жылулық талдау‌24
• .Артықшылықтары: Жалпы құны< $29 000 АҚШ долларыШОБ немесе алдын ала скринингке жарамды.
• .ҚолданбаларШикізатты тексеру немесе орнында сапаны бақылау.

III. Технологияларды салыстыру және таңдау бойынша нұсқаулық‌

Түйіндеме

• .Дәлдік бойынша басымдықАса жоғары таза металдарға арналған ICP-MS/MS немесе GD-MS, қомақты бюджеттерді қажет етеді‌.
• .Теңгерімді шығындар-тиімділікICP-OES күнделікті өнеркәсіптік қолданбаларға арналған химиялық әдістермен біріктірілген.
• .Бұзбайтын қажеттіліктерXRF + бағалы металдар үшін өрт талдауы.
• .Бюджеттік шектеулерШОБ үшін өткізгіштік/жылу талдауымен жұптастырылған химиялық титрлеу